CÁC CÔNG TRÌNH ĐÃ CÔNG BỐ CỦA TS. HUỲNH CÔNG TÚ

Ngày đăng : 12/03/2015
  1. Хуинь Конг Ту, А. М. Скворцов, А. А. Петров. Формирование морфологии системы SiO2/Si  под действием излучения эксимерного лазера // Изв. Вузов. Приборостроение. – 2014. –  Т. 57, № 1. – С. 65-69.
  2. Скворцов А. М., Хуинь К. Т., Халецкий Р. А. Механизм микроструктурирования системы SiO2/Si при облучении сканирующим пучком импульсного волоконного лазера // Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики. – 2013. –  № 3 (85). – С. 137-143.
  3. Скворцов А. М., Халецкий Р. А., Хуинь К. Т. Влияние процесса лазерного микроструктурирования на электрофизические параметры системы SiO2/Si // Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики. – 2013. –  № 1 (83). – С. 119-124.
  4. V. P. Veiko, A. M. Skvortsov, C. T. Huynh and A. A. Petrov. Destruction of monocrystalline silicon with nanosecond pulsed fiber laser accompanied by the oxidation of ablation microparticles // Proc. SPIE. – 2013. – V. 9065. – P. 90650U-1 – 90650U-5.
  5. A. M. Skvortsov, V. P. Veiko, C. T. Huynh and R. A. Khaletskiy. Microstructuring system SiO2/Si with nanosecond pulsed fiber laser // Proc. SPIE. – 2013.  – V. 9065. – P. 90650S-1 – 9065S-5.
  6. C.T.Huynh, A.M. Skvortsov, A.A. Petrov. Nanostructured system SiO2/Si by ArF Excimer Laser Irradiation // Proc. SPIE. – 2013.  – V. 9065. – P. 90650T-1 – 9065T-5.
  7. Скворцов А. М., Вейко В. П., Хуинь К. Т. Применение импульсного волоконного лазера для микроструктурирования системы SiO2/Si // Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики. – 2012. –  № 5 (81). – С. 128-134.
  8. Соколов В. И., Хуинь К. Т. Влияние пленки пористого кремния на спектральную характеристику кремниевого фотодиода // Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики. – 2011. –  № 4 (74). – С. 35-38.
  9. Скворцов А. М., Хуинь Конг Ту. Механизм возникновения и развития микроплавления поверхности кремния при лазерном облучении системы SiO2/Si // Новый университет. – 2013. –  № 4 (14). – С. 60-65.

     10.  Скворцов А.М., Вейко В.П., Хуинь Конг Ту. Формирование сетки линий скольжения при облучении системы SiO2/Si импульсным волоконным лазером // Современный научный вестник. – 2012. –  № 14 (126). – С. 34-38.

     11.  A.M. Skvortsov, V.P.Veyko, C.T.Huynh, R. A. Khaletskiy. Microstructuring system SiO2/Si with nanosecond pulsed fiber laser // Abstracts of «International Conference “Fundamentals of Laser Assisted Micro- and Nanotechnologies” (FLAMN-13)» St. Petersburg – 2013. – P.78-79.

     12.  A.M. Skvortsov, A.A. Petrov, C.T.Huynh. Nanostructured system SiO2/Si by ArF excimer laser irradiation // Abstracts of «International Conference “Fundamentals of Laser Assisted Micro- and Nanotechnologies” (FLAMN-13)» St. Petersburg – 2013. – P.79-80.

     13.  V.P. Veyko, A.M. Skvortsov, A.A. Petrov, C.T. Huynh. Destruction of monocrystalline silicon with nanosecond pulsed fiber laser, accompanied by the oxidation of ablation microparticles // Abstracts of «International Conference “Fundamentals of Laser Assisted Micro- and Nanotechnologies” (FLAMN-13)» St. Petersburg – 2013. – P.81.

      14.   Хуинь Конг Ту, Скворцов А.М., Петров А.А. АСМ исследования наностуктур, формирующихся при модифицировании поверхности системы SiO2/Si ArF лазерными импульсами // Материалы III Международной научно - практической конференции молодых ученых и специалистов – Красноярск: Изд. Научно-инновационный центр, 2013. – С. 236-242.

      15.   Skvortsov A.M., Huynh Cong Tu,  Khaletskiy R.A. Еffect of laser microstructuring on electrophysical properties of system SiO2/Si // Материалы IX Международной научно-практической конференции «Наука и образование – 2012/2013» / Publishing House “Education and Science” s.r.o. (Чехия, Прага). –  2013. –  P. 9-10.

      16.   Хуинь Конг Ту. Упругие механические напряжения, возникающие в системе SiO2/Si, при лазерном облучении // Сборник тезисов I Всероссийского конгресса молодых ученых. СПб: НИУ ИТМО. – 2012. – C. 157.

      17.   Хуинь Конг Ту. Методы формирования нанокластеров кремния в системе диоксид кремния – кремний // Сборник тезисов VIII всероссийской межвузовской конференции молодых ученых. СПб: СПбГУ ИТМО. – 2011. – Вып. 2. – С. 9.

     18.  Хуинь Конг Ту. Изменение морфологии поверхности окисленных кремниевых пластин под действием лазерной обработки // Сборник трудов молодых ученых, аспирантов и студентов научно-педагогической школы кафедры ПиБКС «Информационная безопасность, проектирование и технология элементов и узлов компьютерных систем». Часть 2 – СПб: НИУ ИТМО. – 2011. – С. 10-12.

     19.   Хуинь Конг Ту, Е.И. Ефимов.  Формирование с помощью волоконного лазера линий скольжения в системе Si-SiO2 // Сборник трудов молодых ученых, аспирантов и студентов научно-педагогической школы кафедры ПБКС «Информационная безопасность, проектирование и технология элементов и узлов компьютерных систем». Часть 2 – СПб: НИУ ИТМО. – 2011. – С.7-10.

    20.   Хуинь Конг Ту. Влияние пленки пористого кремния в диодных структурах кремниевых солнечных элементов на их спектральную характеристику // Сборник трудов молодых ученых, аспирантов и студентов научно-педагогической школы кафедры ПБКС «Информационная безопасность, проектирование и технология элементов и узлов компьютерных систем». – СПб: НИУ ИТМО. –  2011. –  С. 9-11.

    21.   Хуинь Конг Ту. Спектральная характеристика кремниевого фотодиода с пленкой пористого кремния на аноде // Сборник трудов молодых ученых, аспирантов и студентов научно-педагогической школы кафедры ПБКС «Информационная безопасность, проектирование и технология элементов и узлов компьютерных систем». – СПб: НИУ ИТМО. –  2011. –  С. 7-9.

CÁC BÀI VIẾT KHÁC

THỐNG KÊ TRUY CẬP

mod_vvisit_counterHôm nay5
mod_vvisit_counterHôm qua59
Đang online1
mod_vvisit_counterTổng Cộng165.215

KHOA KỸ THUẬT VÀ CÔNG NGHỆ TRƯỜNG ĐH QUY NHƠN

Địa chỉ: 170 An Dương Vương, Tp.Quy Nhơn, Bình Định

Điện thoại: 0563 847 010

Email: ddtung@ftt.edu.vn; Website: http://ftt.edu.vn

Copyright @2015 Khoa Kỹ thuật & Công nghệ - Trường ĐH Quy Nhơn. All Rights Reserved